集成电路测试仪

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英国abi_AT256 A4集成电路测试仪

型号:AT256 A4        品牌:英国abi
简介:

英国abi_AT256 A4集成电路测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)

产品详情

英国abi_AT256 A4集成电路测试仪

产品内容:

英国abi_AT256 A4集成电路测试仪通道配置:

二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(可扩充至2048路)

三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(可扩充至2048路)


功能用途:

1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

4)非加电条件下对集成电路、电路板进行端口动态阻抗测试分析;

5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

6)测试安全可靠,解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

8)配合测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。


技术规格:

1)256路二维集成电路用V-I端口动态阻抗测试通道;

2)64/128/192/256路二维电路板用V-I端口动态阻抗测试通道;

3)64/128/192/256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;

4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;

5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;

6)可定制多种封装通用集成电路测试治具;

7)可定制多种电路板I/O接口测试治具;

8)系统提供测试自定义报告输出;中英文测试操作软件;

9)设备可以64通道为步进扩充到2048组测试通道。


英国abi_AT256 A4集成电路测试仪测试原理(V-I曲线测试):

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。


集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试

4.得到PASS或FAIL的测试结果.


不需要电子专业知识.

适用于集成电路/封装件.及多种类型电路板.

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定多种测试条件.

可提供集成电路自定义测试分析报告.


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